21. Technologie- und Anwenderkongress in Fürstenfeldbruck bei München mit über 700 Teilnehmern

Das Fraunhofer IEM beim VIP-Kongress 2016 – »Virtuelle Instrumente in der Praxis«

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Vom 26.-28. Oktober 2016 fand der 21. Technologie- und Anwenderkongress –»Virtuelle Instrumente in der Praxis – VIP 2016« in Fürstenfeldbruck bei München statt und war mit über 700 Teilnehmern ein großer Erfolg. Schwerpunktthemen des diesjährigen VIP-Kongresses waren in diesem Jahr unter anderem neue Technologien für die Vernetzung von verteilten Systemen, das Internet of Things (IoT) sowie neue Softwaretechnologien. Das Fraunhofer IEM beteiligte sich an der Podiumsdiskussion zum Thema »Smartere Testsysteme für Smart Devices« und präsentierte zwei Exponate auf der zugehörigen VIP-Ausstellung.

© Fraunhofer IEM
Auf der Podiumsdiskussion diskutierten Experten über das Thema »Smartere Testsysteme für Smart Devices«. V.l.n.r.: Michael Konrad (Konrad Technologies), Dr.-Ing. Benjamin Döbbeler (Werkzeugmaschinenlabor WZL der RWTH Aachen), Dr.-Ing. Christian Henke (Fraunhofer IEM), Rahman Jamal (National Instruments), Wolfram Koerver (S.E.A., Science & Engineering Applications Datentechnik GmbH) sowie Niels Koch (AUDI AG). Moderiert wurde die Diskussion von Ronald Heinze (VDE-Verlag).
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Am Messedemonstrator wurde am Beispiel eines Waschautomaten die Technologie »Hardware-in-the-Loop« gezeigt. Durch das Verfahren können eingebettete Systeme in einer virtuellen Umgebung effizient getestet werden.

»Smartere Testsysteme für Smart Devices« waren das Thema der diesjährigen Podiumsdiskussion des 21. Technologie- und Anwenderkongresses – »Virtuelle Instrumente in der Praxis – VIP 2016«. Diskutiert wurde über den Umgang mit den technischen Systemen von morgen und wie eine mögliche Entwicklung und Qualitätsabsicherung dieser Systeme zukünftig aussehen könnte. Thematisiert wurde auch, welche Herausforderungen sich im Kontext der Digitalisierung ergeben und wie diesen begegnet werden kann. Teilnehmer waren Dr.-Ing. Christian Henke (Fraunhofer IEM), Niels Koch (AUDI AG), Michael Konrad (Konrad Technologies), Wolfram Koerver (S.E.A., Science & Engineering Applications Datentechnik GmbH), Benjamin Döbbeler (Werkzeugmaschinenlabor WZL der RWTH Aachen) sowie Rahman Jamal (National Instruments). Moderiert wurde die Diskussion von Ronald Heinze (VDE-Verlag).

Neben der Podiumsdiskussion bot der VIP 2016 auch 40 Unternehmen die Möglichkeit, ihre aktuellsten Anwendungen, Lösungen und Produkte im Rahmen der VIP-Ausstellung zu präsentieren. Das Fraunhofer IEM zeigte an einem Messedemonstrator, wie durch den Einsatz der modellbasierten Entwicklung effizient getestet werden kann. Am Beispiel eines Waschautomaten wurde die Technologie »Hardware-in-the-Loop« gezeigt. Durch das Verfahren können eingebettete Systeme in einer virtuellen Umgebung effizient getestet werden. Da durch diese Technologie Testreihen automatisiert durchgeführt werden können, entfallen aufwändige Vor- und Nachbereitungen. Das Vorgehen ermöglicht dadurch ein intensives Testen, welches die steigende Funktionalität mechatronischer Systeme auch zukünftig absichert und gleichzeitig hohe Qualität verspricht. Die Technologie ist in Zusammenarbeit mit der Firma Miele im Rahmen der modellbasierten Entwicklung entstanden.

Der zweite Demonstrator aus dem Automatisierungsbereich zeigt, wie in bestehende Anlagen Intelligenz integriert werden kann. So wurde im Anwendungsbeispiel eine Kommunikation für einen Teigkneter aufgesetzt, um diesen mit der Fähigkeit auszustatten, seinen eigenen Prozess prädiktiv voraussagen zu können und somit ein optimales Knetergebnis zu erhalten. Der Demonstrator entstand im Rahmen eines Kooperationsprojekts mit der Universität Paderborn (Lehrstuhl Regelungstechnik und Mechatronik) und der Firma WP Kemper GmbH. Interessierte Kongressbesucher konnten sich nicht nur am Messestand über dieses Projekt informieren, sondern auch in dem Vortrag »PROFINET-Implementierung im Rahmen der Entwicklung eines intelligenten, selbstlernenden Teigkneters« technische Details zur Umsetzung des Prüfstandes erfahren.