Rückblick auf eine Woche Hannover Messe: Gerne wieder!

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Endlich wieder Hannover Messe! Nach zwei Jahren Pandemie-Pause haben unsere Kolleg:innen vom 30.5.-2.6.2022 ihre Projekte und Themen endlich wieder auf der großen Bühne vorstellen können. 75.000 Besucher:innen kamen nach Hannover. Unser Exponat zu vertrauenswürdiger Künstlicher Intelligenz war ein wahrer Publikumsmagnet. Auf dem OWL-Stand stellten unsere Wissenschaftler:innen zudem zwei spannende Forschungsprojekte zur Arbeitswelt von morgen und zur Künstlichen Intelligenz in der Produktentstehung vor.

Cederic Lenz auf der Hannover Messe 2022
© Fraunhofer IEM
Cederic Lenz (Fraunhofer IEM) stellt einem Messebesucher den RoboGrinder vor, der komplexes Schleifen zuverlässig automatisiert.
Fabian Hanke und Nick Schreiner auf der Hannover Messe 2022.
© Fraunhofer IEM
Fabian Hanke und Nick Schreiner (beide Fraunhofer IEM) verdeutlichen am Lego Serious Play®-Modell den großen Nutzen des KI-Marktplatzes: Partner finden für den erfolgreichen Einsatz von KI im Engineering.
Stefan Gabriel auf der Hannover Messe 2022.
© Fraunhofer IEM
Stefan Gabriel (Fraunhofer IEM) erläuterte Besucher:innen der Messe die Potenziale von KI in unterschiedlichen Bereichen eines Unternehmens. Die bisherigen Forschungsergebnisse hatte das Arbeitswelt.Plus-Konsortium in einem übersichtlichen Dashboard mitgebracht.

Was ist das Fazit unserer Wissenschaftler:innen nach Abschluss der Messewoche? Gerne wieder! Persönliche Gespräche, spannende neue Kontakte und die Bündelung so vielfältiger Innovationsthemen sind durch digitale Formate schwer zu ersetzen. „Um die Umsetzung neuer Technologien in die Unternehmenspraxis greifbar zu machen, sind Anschauungsbeispiele und Best Practices die beste Herangehensweise. Unser Exponat zum intelligenten Schleifen hat genau dies getan: Besucherinnen und Besucher konnten sich überzeugen, wie vertrauenswürdige Künstliche Intelligenz ganz konkret zum Einsatz kommt.  Spannende Rückfragen und Diskussionen runden so einen Messetag dann ab“, erläutert Dr.-Ing. Christian Henke, Abteilungsleiter Scientific Automation am Fraunhofer IEM.

Vertrauenswürdige Künstliche Intelligenz: 40 % schneller Schleifen

Auf dem Stand des Fraunhofer-Verbundes Produktion haben wir mit einem intelligenten Schleifsystem erstmalig die Bearbeitung komplexer Werkstoffe automatisiert. Durch den Einsatz Künstlicher Intelligenz arbeitet das System 40% schneller als mit konventionellen Methoden. Anwendung findet es im RoboGrinder des Maschinenbauers Düspohl, den wir auf der Messe zeigen konnten.

Zur Pressemitteilung: Auf der Hannover Messe 2022 automatisieren das Fraunhofer IEM und Düspohl erstmalig händische Prozesse - Fraunhofer IEM

Künstliche Intelligenz in der Produktentstehung: Ein Marktplatz voller Ideen

Seit 2017 arbeiten wir im BMWK-Verbundprojekt KI-Marktplatz an einem Ökosystem für den Einsatz von Künstlicher Intelligenz in der Produktentstehung. Darin werden Anwender Künstlicher Intelligenz klug mit Technologie- und Lösungsanbietern vernetzt. Auf der Hannover Messe demonstrierten unsere Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler die Idee des Marktplatzes anhand eines Lego Serious Play®-Modells, zeigten spannende Usecases, etwa zum Engineering von Landmaschinen mit CLAAS, auf – und knüpften sogleich neue Kontakte für ihr Netzwerk.

Zum Projekt KI-Marktplatz: KI-Marktplatz - Fraunhofer IEM

Arbeitswelten der Zukunft: Welche Potenziale bietet Künstliche Intelligenz?

Künstliche Intelligenz wird die Arbeitswelt grundlegend verändern: KI-Systeme unterstützen Arbeitsprozesse, übernehmen Aufgaben und schaffen neue Arbeitsfelder. Im BMBF-Kompetenzzentrum Arbeitswelt.Plus arbeiten wir seit 2018 daran, Unternehmen bei diesem tiefgreifenden Wandel zu unterstützen. Themenschwerpunkte sind beispielsweise Arbeitsplatzgestaltung, Kompetenzentwicklung und Change Management. Das Partnerunternehmen Kannegiesser hatte einen spannenden Demonstrator zur intelligenten Wäschesortierung in einer Großwäscherei zur Hannover Messe mitgebracht.

Zum Projekt Arbeitswelt.Plus: Kompetenzzentrum Arbeitswelt.Plus - Fraunhofer IEM